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Topographie - Deutschland

Deutschland
  1. VEW VEREINIGTE ELEKTRONIKWERKSTÄTTEN GMBH

    Deutschland

    Seit 1980 entwickelt und fertigt die VEW-GmbH elektronische Geräte, komplexe Systeme sowie Mess-, Steuer- und Regeltechnik für die Anwendungsbereiche: Produktions- und Prozessautomatisierung. Kalibriertechnik. Sondermaschinen- und Prüfstandsbau. Qualitätssicherung. Optische Messtechnik. Reengineering. Auf dieser Basis gedeihen langjährige Geschäftsverbindungen auf hohem technischem Niveau zur Luft- und Raumfahrtindustrie, zu den Energieversorgern, zum öffentlichen Personennahverkehr (ÖPNV), etc. Insbesondere die Energieversorgungsunternehmen, die chemische Industrie und der ÖPNV nutzen das spezielle Know-how im Bereich „Redesign und Re-Engineering“ um die nicht mehr verfügbaren Original-Baugruppen der Originalhersteller in den unterschiedlichsten Prozesssteuerungen zu ersetzen. Für die Luft- und Raumfahrtindustrie werden komplexe Mess-, Prüf- und Testsysteme für den Bodentest von Luftfahrtkomponenten und Strukturbauteilen entwickelt. VEW-GmbH ist seit über 30 Jahren für alle Airbus-Programme von A300 bis A380 und A400M tätig. Unter anderem wurden konfigurierbare Vielkanal - Messwerterfassungssysteme mit hoher Abtastrate und simultaner Abtastung sowie spezielle optische Messsysteme entwickelt. Z. B. zur hochauflösenden Untersuchung der Topographie reflektierender Objektoberflächen, sowie auch zur flächenhaften Formtreueuntersuchung der Flügel und Landeklappen, oder auch zur Detektion von verdeckten Fehlern (Delamination) in Strukturkomponenten aus Verbundmaterialien.

  2. INNOWEP GMBH

    Deutschland

    ABREX: Normprüfgerät zur reproduzierbaren Bestimmung der Resistenz gegenüber Handabrieb nach EN 60068-2-70 / IEC 68-2-70, UST: Universalprüfgerät zur Bestimmung mikromechanischer Materialkenngrößen wie Softness, Kratzfestigkeit, Rauheiten, Mikrohärte, Abrieb- und Verschleißresistenz, ... OptoTop: Optisches Prüfgerät für schnelle und kontaktfreie Topographie- und Geometrievermessungen Die Innowep GmbH hat sich auf Werkstoffoberflächen, Funktions- und Umweltbeständigkeitsprüfung in den Bereichen Haptik, Mikroabrieb und Verschleiß, Mikrotribologie, Mikrohaft- und Mikrogleitreibung, Kratzfestigkeit, Bewertung von Oberflächenstrukturen, Topografie, Oberflächentextur, Mikrohärte, Kratzfestigkeit, Softness und soft-chemomechanischer Handabrieb spezialisiert

  3. FRT FRIES RESEARCH & TECHNOLOGY GMBH

    Deutschland

    Die Fries Research & Technology GmbH (FRT) bietet 3D-Oberflächenmesstechnik für die Forschung und Produktion. Die Haupttätigkeiten liegen in der Entwicklung, Fertigung sowie dem weltweiten Vertrieb von Oberflächenmesstechnik und Software zur metrologischen Messung von Oberflächen mit höchster Auflösung. Mit Mikro- und Nanometerauflösung liefern die mehrfach ausgezeichneten Messsysteme (z.B. Profilometer) von FRT berührungslos und zerstörungsfrei sowie wahlweise vollautomatisch Informationen über die Topographie, Struktur, Stufenhöhe, Rauheit, Verschleiß, Schichtdicke und viele andere Parameter. Mehr als 500 Anlagen sind weltweit bei Unternehmen aus den Branchen wie z.B. Automotive, Halbleiter, Mikrosystemtechnik, Optik, Solar/Photovoltaik im Einsatz. Ergänzend zu den Messgeräten, entwickelt FRT eine spezialisierte Steuer- und Auswertesoftware. Sie berücksichtigt den aktuellen Bedarf des Kunden und ist auf den höchst möglichen Nutzen der Messgeräte ausgerichtet.

  4. FRT SÜD FRIES RESEARCH & TECHNOLOGY GMBH

    Deutschland

    Die FRT GmbH entwickelt, produziert und verkauft Messgeräte für die berührungslose, zerstörungsfreie Untersuchung von Oberflächen. Die Messaufgaben sind die Bestimmung von Rauheit, Topographie, Kontur, Schichtdicken, Stufenhöhe und Dickenvariation im Nano- und Mikrometerbereich. Mit fast zwanzig unterschiedlichen optischen Sensoren ist nahezu jede individuelle Messaufgabe der Kunden lösbar. Die Kernkompetenz der FRT liegt im Oberflächenmessgerätebau. Die Messgeräte der FRT GmbH zeichnen sich durch berührungslose und zerstörungsfreie Messung aus. Die Messbereiche gehen vom Nanometer bis zum Meter. Die Systeme erreichen Auflösungen bis in den Nanometerbereich. Die Bestimmung von Rauheit, Kontur, Topographie, Schichtdicke, Stufenhöhe und Dickenvariation gehört zu den Hauptaufgaben