LAMTECH LASERMESSTECHNIK GMBH

Lamtech Lasermesstechnik bietet Sichtprüfinterferometer für die visuelle Ebenheitsprüfung von feinbearbeiteten (SPI) und polierten (PGI) Oberflächen an. Zur Prüfung werden die Teile einfach auf eine Glasfläche an der Oberseite des SPI oder PGI gelegt. Teil und Lichtbänder werden dann vergrößert auf einem Monitor dargestellt. Hierbei wird die Ebenheit aufgrund der Geradheit, Parallelität und Äquidistanz, der auf dem Monitor dargestellten Interferenzstreifen beurteilt.

Ebenheitsmessung von großen Ringen und Flächen durch die Erweiterung des TOPOS 100 mit einem Dreh- oder Kreuztisch

TOPOS Interferometrische Messsysteme für die berührungslose Ebenheitsprüfung von feinbearbeiteten Präzisionsteilen TOPOS Interferometer arbeiten nach dem Prinzip des streifenden Lichteinfalls, so dass die Ebenheit auch rauerer Teile, die mit dem Planglas oder Fizeau-Interferometer kein Streifenbild mehr zeigen, gemessen werden können. Aus dem Interferenzstreifenbild wird von einem Rechner die Ebenheit eines Teils bestimmt. Neben geläppten oder feingeschliffenen Teilen sind auch polierte Teile messbar. Die Teile können aus verschiedensten Werkstoffen bestehen: Metall (Stahl, Aluminium, Bronze, Kupfer, etc.) Keramik (AL2O3, SiC, SiN, etc.) Kunststoff etc. Die Interferometer können in der Fertigung in der Nähe der Bearbeitungsmaschine aufgestellt werden. Die Absolutgenauigkeit beträgt bis zu 0.1 µm über das gesamte Messfeld.

Wir messen Einzelteile und Muster, bis hin zu kompletten Serien. Je nach Ihren Bedürfnissen können Sie dabei zwischen verschiedenen Darstellungsformen der Ergebnisse wählen: - Listenformat - detailierte PDF-Datei - Ausdrucke der verschiedenen Grafiken