AMETEK GERMANY GMBH BU ZYGO

Die optischen 3D Profilometrie-Geräte ZeGage™ Pro und ZeGage™ Pro HR ermöglichen berührungslose Messungen und Charakterisierungen mikro- und nanoskaliger Merkmale nahezu jeder Oberfläche, und setzen dabei in Sachen Leistungsfähigkeit, Bedienungskomfort, Anpassungsfähigkeit und Genauigkeit neue Maßstäbe für industrielle, berührungslose Oberflächen-Profilometrie-Tischgeräte . Der Grundmodell ZeGage™ Pro bietet Oberflächenmessungen im Nanometerbereich und erfüllt damit die Anforderungen für die meisten industriellen Oberflächen. Für glattere Proben mit deutlich feineren Oberflächengüten verbessert das ZeGage™ Pro HR die vertikale Präzision 20-fach auf 0,15 nm.

Das optische 3D-Oberflächenprofilometer NewView™ 9000 bietet extreme Vielseitigkeit im Bereich berührungsfreier Oberflächenmessung. Mit diesem System können in kurzer Zeit und auf einfache Weise unterschiedlichste Oberflächentypen gemessen werden, darunter glatte, raue, flache, geneigte und gestufte Oberflächen. Alle Messungen sind zerstörungsfrei, schnell durchführbar und benötigen keine Aufbereitung des Messobjektes. Im Kern des Systems liegt ZYGO's Technologie der scannenden Weisslichtinterferometrie (CSI), die bei allen Vergrößerungen die gleiche Sub-Nanometer-Präzision liefert und eine größere Bandbreite von Oberflächen schneller und präziser misst als andere vergleichbare kommerziell erhältliche Technologien, und somit zu einer optimierten Rentabilität führt. • Hoch-empfindlicher 1,9 MP Sensor • Schnelle berührungslose Messung • Hervorragende 3D-Oberflächenvisualisierung • Sub-Angstrom Präzision • Der Maßstab für Präzision und Messmittelfähigkeit

Der optische 3D-Profilometer Nexview™ NX2 wurde für die anspruchsvollsten Anwendungen entwickelt und kombiniert besonders hohe Präzision, fortschrittliche Algorithmen, Anwendungsflexibilität und Automatisierung in einem einzigen Paket, und ist somit ZYGOs fortschrittlichster scannendes Weisslichtinterferometer (CSI) Profilometer. Diese vollständig berührungslose Technologie optimiert die Rentabilität, indem sie bei allen Vergrößerungen die gleiche Sub-Nanometer-Präzision liefert und eine größere Bandbreite von Oberflächen schneller und präziser misst als andere vergleichbare kommerziell erhältliche Technologien. Mit den verschiedensten Anwendungen wie Ebenheit, Rauheit, Welligkeit, Dünnschichten, Stufenhöhen usw. ist das Nexview NX2 für praktisch jede Oberfläche und jedes Material das kompromisslose Profilometer. 1,9 MP Großflächen Hochgeschwindigkeitsmessungen Automatisierte Teilefokussierung und -einstellung Messmitelfähige Performance Die vibrationsresistente Messtechnik

Das neue Laser-Interferometer DynaFiz® von ZYGO ist ein hochoptimiertes optisches Gerät, das speziell für exakte Optikmessungen in Umgebungen mit Luftverwirbelungen und starken Vibrationen konzipiert ist. Mit seiner hohen Lichtleistung und der eingebauten Hochleistungs-HeNe-Laserquelle ermöglicht unser optisches System DynaFiz® den Einsatz von Hochgeschwindigkeisfotografie, die Vibrationen „einfriert”. Dank dieser dynamischen Fähigkeiten kann mit DynaFiz auch in Umgebungen, die für herkömmliche Phasenverschiebungstechniken zu unruhig sind, zuverlässig gemessen werden. Durch die hochauflösende, geräuscharme Kamera und die optische Vergrößerung des DynaFiz-Interferometer können mittlere Ortsfrequenzen auf der Oberfläche eines Testartefakts klar dargestellt werden. • Dynamische Erfassung bei Luftverwirbelungen und starken Vibrationen • Klare Darstellung mittlerer Ortsfrequenzen durch ein optimiertes optisches System • Echtzeit-Zernike-Analyse mit LivePhase™