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Die Leica EM TXP ist ein einzigartiges Instrument für die Probenvorbereitung, das speziell für das Fräsen, Sägen, Schleifen und Polieren von Proben vor einer Untersuchung mittels REM (Rasterelektronen- mikroskop), TEM (Transmissionselektronenmikroskop) oder LM (Lichtmikroskop) entwickelt wurde. Dank eines integrierten Stereomikroskopes können selbst schwer erkennbare Ziele präzise lokalisiert und problemlos präpariert werden.
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