Mikroskopoptik für die Infrarotkamera optris Xi 400

Mikroskopoptik für die Inspektion von Leiterplatten
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Beschreibung

Die Mikroskopoptik für die Infrarotkamera optris Xi 400 ermöglicht eine verlässliche Temperaturmessung an winzigen Objekten ab 240 µm. In Kombination mit einem passenden Ständer ermöglicht dies eine professionelle Messung von Leiterplatten und Komponenten in der Elektronikindustrie. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist variabel zwischen 90 und 110 mm. Durch den eingebauten Motorfokus lässt sich die Kamera bequem in der mitgelieferten PIX Connect Software fokussieren.

  • Videoüberwachungssysteme
  • IR-Kameras
  • Thermografie
  • berührungslose Temperaturmessung

Produktmerkmale

Temperaturbereich
-20 °C ... 900 °C
Spektralbereich
8 bis 14 µm
Optische Auflösung
382 x 288 Pixel
Bildfrequenz
80 Hz / 27 H
Gewicht
200 g
Spannungsversorgung
via USB

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Domain icon Hersteller/ Fabrikant

13127 Berlin - Deutschland

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