Leica EM TXP
Zielpräzisionsinstrument zur Probenvorbereitung
Beschreibung
Die Leica EM TXP ist ein einzigartiges Instrument für die Probenvorbereitung, das speziell für das Fräsen, Sägen, Schleifen und Polieren von Proben vor einer Untersuchung mittels REM (Rasterelektronen- mikroskop), TEM (Transmissionselektronenmikroskop) oder LM (Lichtmikroskop) entwickelt wurde. Dank eines integrierten Stereomikroskopes können selbst schwer erkennbare Ziele präzise lokalisiert und problemlos präpariert werden.
- Oberflächenendbearbeitung - Maschinen
- Probenvorbereitung
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