Beschreibung

Das Dreifach-Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X ermöglicht das Erstellen von Querschnitten und planen Oberflächen für die Rasterelektronenmikroskopie (Scanning Electron Microscopy - SEM), Mikrostrukturanalyse (EDS, WDS, Auger, EBSD) und AFM-Untersuchungen. Mit dem Leica EM TIC 3X produzieren Sie bei Raumtemperatur oder bei gefrorenen Proben aus fast jedem Material hochwertige Oberflächen, sodass die inneren Strukturen weitestgehend im ursprünglichen Zustand erhalten bleiben.

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