Kombinierter konfokaler und interferometrischer optischer Profilometer für zerstörungsfreie dreidimensionale Oberflächenmessungen. Ultraschnelle Analyse durch leistungsfähige Software, einfache Modusauswahl per Klick und konfokales Scannen ohne bewegliche Teile. Für Oberflächen mit steilen Flanken oder komplexe Formen: HD Konfokalmessung für eine vertikale Auflösung von bis zu 2 nm. Für vergleichsweise ebene Oberflächen mit Mikrostrukturen: drei Modi für Interferometrie erlauben eine Auflösung von bis zu 0,1 nm. • Innovative HD-Mikrodisplay-Scantechnologie: keine beweglichen Teile im Sensorkopf, dadurch schnelle, reproduzierbare Datenerfassung. • Integrierte HD CCD-Kamera mit großem Sichtfeld, mit dem ein größerer Bereich der Probenoberfläche auf einmal analysiert werden kann. • Superschneller XY-Topographie-Stitching-Modus für ein nahtloses, präzises Modell eines noch größeren Oberflächenbereichs. • 4 verschiedenfarbige LEDs im Sensorkopf für eindrucksvolle, realistische...
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